HAST试验箱是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此HAST高压加速寿命试验机用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。用较少的时间就可完成对产品的湿度的测试。在100℃以上的温度下，通过提高和增加压力，可以模拟正常湿度测试，同时保持相同的故障机制。几小时或几天就能通过产品的老化测试，大大节省了产品开发周期。
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