X射线质量控系统
X射线质量控系统 产品编号:SY00479
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X射线质量控系统适用于评价各种X 线机,包括:CT机,拍片机,透视机,脉冲透视,便携X-线机等。
可一次曝光测量数据包括kVp、PPV、剂量、剂量率、曝光时间、HVL、总滤过。
X射线质量控系统随机提供免费数据储存及分析软件,可定制用户报告。
X射线质量控系统具有外置双通道探测器接口,可同时附加第二通道剂量探测器。
数据传输应用直接有线连接,高速数据传输技术。可真正做到0.1ms探测技术。
可实时显示剂量及kVp波形,方便分析。波形图最小分辨时间为0.1毫秒。
X射线质量控系统的量程及精度:
千伏:40-155 kV /
±2%
剂量:100nGy-9999mGy
/ ±5%
剂量率:0.1µGy/s-120mGy/s
/ ±5% 或±0.02µGy/s
曝光时间:0.2ms-999.9s
快速半值层:1.3-10mmAl
/ ±10%或0.2mm
总滤过:1.5-30 mm
Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)
乳腺机量程及精度
千伏:20-49 kV / ±1.5% 或 0.7 kV
剂量:0.2µGy-9999mGy
剂量率:0.4µGy/s-700mGy/s
曝光时间:0.2ms-999.9s
快速半值层:0.2-1.2
mm Al根据射线质量/ ±5%
总滤过:1.5-30 mm
Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)
CT机部分的量程及精度:
测量后,分析软件可自动出具报告CTDI值
X射线质量控系统 产品编号:SY00479
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